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大顆粒計數粒度分析儀

產品簡介：
ZMS850大顆粒計數粒度分析儀系統是采用圖像法測量顆粒粒度大小、形狀特征、顆粒表面顏色的顆粒分析系統。其工作原理是通過專用高分辨率CCD線性傳感器和光學掃描平臺，將顆粒圖像信息采集下來并傳輸到計算機中，用專門的顆粒圖像分析軟件對顆粒圖像進行分析。結合智能的背景分離及很強的顆粒邊界搜索算法，將目標顆粒與背景分離，分析出各種測量參數。

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詳細介紹

產品特點：

ZMS850大顆粒計數粒度分析儀具有大測量范圍及高分辨率，同時具有直觀、可視、準確、操作簡單、測量參數全面等特點。是目前能夠同時測量顆粒粒度、形狀及表面顏色的新型大顆粒粒度分析儀器。

技術參數：

測量范圍：5μm ～ 100mm

重復性誤差：<3%

等效粒徑：等面積圓、等周長圓、等效短徑、等效長徑、等效橢圓短軸、等效寬度、等效長度、等效正六邊形短軸、等效正六邊形長軸。

粒度統計：體積、面積、顆粒、數量統計

形狀參數：圓度、球形度、凸起度、實積度、延伸度、長徑比、長寬比、橢圓度

測量方式：干法

光學傳感器：CCD線性傳感器

圖像分辨率：20000 * 20000

光學平臺：220mm * 300mm

背景光源：反射光

工作環境：5～35℃（溫度）, ＜85%（相對濕度）

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